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簡(jiǎn)單介紹:
ETP孔銅測(cè)厚儀探頭是用于 日立分析儀器(原Oxford 牛津) CMI511(CMI500)孔銅測(cè)厚儀、CMI760(CMI700)座臺(tái)式孔面銅測(cè)厚儀的探頭。
- 概述
- 特點(diǎn)
- 技術(shù)指標(biāo)
- 型號(hào)和配件