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DCMI233牛津測(cè)厚儀的介紹

日期:2024-08-20 14:25
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摘要:
  測(cè)厚儀(DCMI233牛津測(cè)厚儀)可以用來(lái)在線測(cè) 量軋制后的板帶材厚度,并以電訊號(hào)的形式輸出。該電訊號(hào)輸給顯示器和自動(dòng)厚度控制系統(tǒng),以實(shí)現(xiàn)對(duì)板帶厚度的自動(dòng)厚度控制(AGC)。 目前常見(jiàn)的測(cè)厚儀有γ射線、β射 線、x射線及同位素射線等四種,其安放位置均在板帶軋機(jī)的出口或入 口側(cè)。設(shè)計(jì)、安裝測(cè)厚儀時(shí)要在可能的條件下盡量靠近工作輥,目的是降低板厚的滯后調(diào)整時(shí)間。
  磁性測(cè)厚儀(DCMI233牛津測(cè)厚儀)在測(cè)定各種導(dǎo)磁材料的磁阻時(shí),測(cè)定值會(huì)因其表面非導(dǎo)磁覆蓋層厚度的不同而發(fā)生變化。利用這種變化即可測(cè)知覆蓋層厚度值。常用于測(cè)定鐵磁金屬表面上的噴鋁層、塑料層、電鍍層、磷化層、油漆層等的厚度。
  渦流測(cè)厚儀當(dāng)載有高頻電流的探頭線圈置于被測(cè)金屬表面時(shí),由于高頻磁場(chǎng)的作用而使金屬體內(nèi)產(chǎn)生渦流,此渦流產(chǎn)生的磁場(chǎng)又反作用于探頭線圈,使其阻抗發(fā)生變化,此變化量與探頭線圈離金屬表面的距離(即覆蓋層的厚度)有關(guān),因而根據(jù)探頭線圈阻抗的變化可間接測(cè)量金屬表面覆蓋層的厚度。常用于測(cè)定鋁材上的氧化膜或鋁、銅表面上其他絕緣覆蓋層的厚度。
  同位素測(cè)厚儀利用物質(zhì)厚度不同對(duì)輻射的吸收與散射不同的原理,可以測(cè)定薄鋼板、薄銅板、薄鋁板、硅鋼片、合金片等金屬材料及橡膠片,塑料膜,紙張等的厚度。常用的同位素射線有γ射線、β射線等。

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